Avintonジャパン
Detektering av defekta produkter i halvledarkretsar
Vi har utvecklat ett AI-system som kan upptäcka defekter bland cirka 3 000 IC-chips inbäddade i en enda halvledarskiva. En enstaka waferbild kan avläsas med en bearbetningshastighet på 4 sekunder eller mindre som kortast, och även små defekter som inte kunnat upptäckas förrän nu kan upptäckas […]