Avintonジャパン
Detektering av defekta produkter i halvledarkretsar
Vi har utvecklat ett AI-system som kan upptäcka defekter bland cirka 3 000 IC-chips inbäddade i en enda halvledarskiva. En enstaka waferbild kan avläsas med en bearbetningshastighet på 4 sekunder eller mindre som kortast, och även små defekter som inte kunnat upptäckas förrän nu kan upptäckas […]
SV 
JA 
EN 
ZH 
VI 
HI 
DE 
FR 
CS 
DA 
NL 
FI 
HU 
IT 
KO 
NN 
ES 
TA