Avintonジャパン
Hibás termékek észlelése félvezető IC chipekben
Kifejlesztettünk egy mesterséges intelligencia rendszert, amely képes észlelni a hibákat körülbelül 3000 IC chip között, amelyek egyetlen félvezető lapkába vannak beágyazva. Egyetlen ostyakép 4 másodperces vagy annál rövidebb feldolgozási sebességgel is leolvasható, és még az eddig nem észlelhető apró hibák is kimutathatók […]
HU 
JA 
EN 
ZH 
VI 
HI 
DE 
FR 
CS 
DA 
NL 
FI 
IT 
KO 
NN 
ES 
SV 
TA