हमने एक एआई प्रणाली विकसित की है जो एक सेमीकंडक्टर वेफर में एम्बेडेड लगभग 3,000 आईसी चिप्स के बीच दोषों का पता लगा सकती है। एक एकल वेफर छवि को कम से कम 4 सेकंड या उससे कम की प्रसंस्करण गति से पढ़ा जा सकता है, और यहां तक कि छोटे दोषों का भी पता लगाया जा सकता है जिनका अब तक पता नहीं लगाया जा सका […]