Nous avons développé un système d'intelligence artificielle capable de détecter des défauts parmi environ 3 000 puces IC intégrées dans une seule tranche de semi-conducteur. Une seule image de plaquette peut être lue à une vitesse de traitement de 4 secondes ou moins au plus court, et même de petits défauts qui ne pouvaient pas être détectés jusqu'à présent peuvent être détectés […]