Wir haben ein KI-System entwickelt, das Defekte unter etwa 3.000 IC-Chips erkennen kann, die in einen einzigen Halbleiterwafer eingebettet sind. Ein einzelnes Waferbild kann mit einer Verarbeitungsgeschwindigkeit von höchstens 4 Sekunden gelesen werden, und selbst kleine Defekte, die bisher nicht erkannt werden konnten, können erkannt werden […]