Avinton
Påvisning af defekte produkter i halvleder-IC-chips

Vi har udviklet et AI-system, der kan detektere defekter blandt cirka 3.000 IC-chips indlejret i en enkelt halvlederwafer. Et enkelt waferbillede kan læses med en behandlingshastighed på 4 sekunder eller mindre på den korteste tid, og selv små defekter, der ikke kunne detekteres indtil nu, kan detekteres […]

24. maj 2021 / Sidst opdateret : 24. maj 2021 komura5791 Enhedssensor

JUKI
Højhastigheds smart modulær montering

Ved at læse RFID-mærket, der er fastgjort til dysen, og RFID-læseren, der er fastgjort til hovedenheden, øger "takumi-hovedet", der justerer genkendelsessensoren for hver dyse i henhold til højden af delen, højden med et trin, hvilket resulterer i en mere optimal hovedhøjde Det er muligt at montere dele på […]