Avinton
Påvisning af defekte produkter i halvleder-IC-chips
Vi har udviklet et AI-system, der kan detektere defekter blandt cirka 3.000 IC-chips indlejret i en enkelt halvlederwafer. Et enkelt waferbillede kan læses med en behandlingshastighed på 4 sekunder eller mindre på den korteste tid, og selv små defekter, der ikke kunne detekteres indtil nu, kan detekteres […]