Avinton Japonsko
Detekce vadných produktů v polovodičových IC čipech
Vyvinuli jsme systém umělé inteligence, který dokáže detekovat defekty mezi přibližně 3 000 IC čipy zabudovanými v jediném polovodičovém waferu. Jeden obraz waferu lze číst rychlostí zpracování 4 sekundy nebo méně při nejkratší době a lze detekovat i malé vady, které dosud nebylo možné detekovat […]