製造現場における外観検査による不良検知向けに、教師なし（分類基準のラベルづけ作業なし）で高精度に画像をグループ化する画像分類AIを開発した。深層学習技術により、様々な背景の中で撮影された一般画像の公開データにおいて、分類精度を従来技術から向上させた。人手による分類基準のラベルではなく、1枚の画像を1つの分類基準とする疑似的な教師あり学習を行うことで、多くの画像に表れる背景のような部分ではなく、一部の画像に表れる不良や欠陥に着目して特徴を抽出する。

URL　:　https://www.global.toshiba/jp/technology/corporate/rdc/rd/topics/21/2104-01.html

• 業種分類
• 製造業

• 製品分類
• データ処理・分析

• サービス分類
• システムインテグレータ

• 対応地域
• 東京

• 出典
• 日経産業新聞
  2021.10.7

• リリース日
• 2021/12/01