会社名・組織 : みずほ情報総研
方式・名称  : AIを活用した外観検査

IoT 製造業に関する記事

工場の製造ラインでの異物混入や汚れの付着、損傷箇所の発生等による不良品を検出する外観検査においては、正常データのみを学習させて正常/異常データを判別する「良品学習」という手法が考案され、その一つに、画像の次元圧縮及び再構成を利用した方法がある。これは、正常データを用いて学習した次元圧縮・再構成構造を利用すると異常個所も正常な状態に再構成される傾向を利用して異常を検知する。

URL : https://www.mizuho-ir.co.jp/solution/research/telecom/system/machinelearning/ex01.html#link02

  • 業種分類
  • 製造業
  • 製品分類
  • データ処理・分析
  • サービス分類
  • システムインテグレータ
  • 対応地域
  • 東京
  • リリース日
  • 2021/01/01
通信分類9_1